DCM-40錯位測量顯微鏡

DCM-40/60是一款設計獨特的顯微鏡，可分別或同時觀察物體的表面和底面圖像，並對兩圖像進行比較，還可以通過測量裝置測量兩圖像（表面和底面）的偏差。用途：直接測量AB兩個面的錯位尺寸

可選的物鏡有五種，放大倍率從50X~100X。測量精度可達1μm。

DCM-40/60主要應用於微電子行業，特別是在半導體行業。產品上下面尺寸有偏移時就可以直接對比測量，減少其它間接測量方式的誤差且不會損坏產品。例如：晶圓划片基準印字偏移，柔性線路板線路間距，陶瓷電容片切割對位和IC框架邊緣質量等應用。

規格：

測量步驟：

1.將"光路選擇開關"旋轉到"Top& Bottom"位置，調整上、下物體的光軸至重合。

2.將工件置於工作臺上。旋轉"光路選擇開關"到"Top" 位置，對焦上表面. .

3.旋轉“光路選擇開關"到"Bottom” 位置， 對焦下表面。.

4.將“光路選擇開關"旋轉到"Top &Bottom"位置，測量兩圖像的位置偏差。